CMTジャパンは 韓国SEC社製 X線検査装置を取り扱っています。

半導体やエレクロトニクスコンポーネントの微細な内部欠陥を非破壊で検出できます。 高精度 3DCT検査にも対応致します。

*樹脂中ボイド

*異物混入

*銅ワイヤー形状、異常の検査

*ダイボンド層のボイド(ボイド率%を検査するソフトウェア装備)

新製品 SF160NCTは、3DCTスキャンの時間が軽減され 数分でCTスキャンを行うことが出来ます。また フィラメント技術の向上により

10000時間の間(1年以上)フィラメントの交換をする必要はありません。長期間ご使用でのトータルコストはかなり安くなります。

 

SF160