ナノフォーカスX線検査装置　　X-eye NF120 series

X-eye NF 120は、最先端半導体デバクィス用に設計された　SEC社製 ナノフォーカスX線検査装置です。
WLPのバンプ接合、TSV、Copperピラー用途での　マイクロ接合状態を観察することができます。