X eye 5100 シリーズは 非破壊検査、不良解析に使用されるものです。100kVの密閉管タイプを使用しています。高倍率で観察できる 高解像度フラットパネル検知器を採用しています。セミオートで使用できるオートティーチング機能もあり、容易に設定すること可能です。非常に低価格でご提供できます。

(アプリケーション)

  • SMT基板実装 : はんだ接合状態の確認 (BGAなどの ボイド、オープンショート、はんだブルッジ ボールレス)
  • 半導体アセンブリ: IC,LSI,LEDなど ワイヤボンドの状態の確認 ダイボンド材のボイド
  • 電子部品 : コネクター、カメラモジュール 電池の内部の状態確認