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月別アーカイブ: 2016年6月

ナノフォーカスX線検査装置  X-eye NF120 series

X-eye NF 120は、最先端半導体デバクィス用に設計された SEC社製 ナノフォーカスX線検査装置です。 WLPのバンプ接合、TSV、Copperピラー用途での マイクロ接合状態を観察することができます。 &nbs …

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